Vol. 9 Núm. 2 (2025)

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Publicado: 2025-12-15

Acústica, audio y ultrasonido

  • Enfrentando a la ISO: Sobre el uso del símbolo dBA para los niveles sonoros con ponderación A

    Federico Miyara
    37-41
    DOI: https://doi.org/10.37537/rev.elektron.9.2.216.2025

  • Evaluación acústica de la cabina audiométrica del CINTRA

    Sara Gaetán, Agustín Cravero, Luciano Romero, Ana Luz Maggi, Jorge Pérez Villalobo, María Hinalaf
    42-46
    DOI: https://doi.org/10.37537/rev.elektron.9.2.219.2025

  • Aplicación de redes neuronales en tomografía computarizada por ultrasonido

    Malena Camila Diaz Falvo, Martín Germán González, Leonardo Rey Vega
    47-55
    DOI: https://doi.org/10.37537/rev.elektron.9.2.223.2025

Optoelectrónica y microelectrónica

  • Topología Daisy Chain en FPGA para modernización naval: implementación y extensión con ARP

    Emiliano Sebastián Gallo, Ricardo Luis Cayssials, Christian Luis Galasso, Alan Emir Arias
    56-67
    DOI: https://doi.org/10.37537/rev.elektron.9.2.220.2025

Procesamiento de señales

  • Desarrollo de un simulador óptico de detonación de cordones detonantes basado en FPGA

    Silvano Renato Rossi, Matias Rubén Simonet Faraldo, Roberto Juan de la Vega, Franco Emanuel Déber, Roberto César Leegstra
    68-75
    DOI: https://doi.org/10.37537/rev.elektron.9.2.218.2025

  • Aprendizaje anticausal en problemas inversos y su aplicación a tomografía optoacústica

    Matías Vera, Martín Germán González, Leonardo Rey Vega
    76-83
    DOI: https://doi.org/10.37537/rev.elektron.9.2.222.2025

Redes de computadoras e informática

  • Comunicación entre computadora industrial e interfaz sincrónica - digital

    Franco Ezequiel Prats, Arnaldo Sosa, Christian Galasso, Adrián Laiuppa
    84-93
    DOI: https://doi.org/10.37537/rev.elektron.9.2.221.2025

Telecomunicaciones e industria y sistemas aeroespaciales

Artículos de estudiantes

  • Placa de expansión para portabilidad: batería, Bluetooth/WiFi/USB, SD e interfaz gráfica

    Leonardo Casal, Francisco Calderón Acosta
    100-106
    DOI: https://doi.org/10.37537/rev.elektron.9.2.215.2025