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Sitio Principal > Archivos > Vol 3, No 1 (2019)

Tabla de contenidos

Acústica y Audio

Análisis circuital de espacios acústicamente acoplados Federico Miyara DOI: https://doi.org/10.37537/rev.elektron.3.1.62.2019

PDF (English) HTML (English) 1-5

Nivel de exposición sonora de disparos en campo libre: cálculo y comprobación experimental Leandro Sebastián Rodiño DOI: https://doi.org/10.37537/rev.elektron.3.1.60.2019

PDF HTML 6-9

Absorción Acústica de Jardines Verticales Ariel Velis, Carlos Manuel Posse, Ana Rizzo La Malfa DOI: https://doi.org/10.37537/rev.elektron.3.1.55.2019

PDF HTML 10-15

Modelo de predicción de aislamiento acústico para paneles simples y multicapa Joaquín Mansilla Benasco, Laurence Bender, Leonardo Pepino DOI: https://doi.org/10.37537/rev.elektron.3.1.57.2019

PDF HTML 16-23

Gradiente de retardo temporal y reflexiones en superficies corrugadas Georgina Alejandra Lizaso, Nicolás Casais Dassie, Damián Andrés Fernández, Jorge Petrosino DOI: https://doi.org/10.37537/rev.elektron.3.1.73.2019

PDF HTML 24-28

Automatización y Control

Diseño de un autopiloto para pequeños vehículos no tripulados Leonardo Garberoglio, Claudio Pose, Ignacio Mas, Juan Ignacio Giribet DOI: https://doi.org/10.37537/rev.elektron.3.1.71.2019

PDF HTML 29-38

Enseñanza

Investigación guiada: innovación pedagógica aplicada a la enseñanza de acústica Sebastian Pablo Ferreyra, Gabiel Agustín Cravero, Ana Maria Moreno, José Yamil Simes, Juan Facundo López DOI: https://doi.org/10.37537/rev.elektron.3.1.72.2019

PDF HTML 39-45

Enseñanza de acústica física con simulaciones en k-wave Jorge Petrosino, Lucas Landini, Georgina Alejandra Lizaso, Antonio Ian Kuri, Ianina Canalis DOI: https://doi.org/10.37537/rev.elektron.3.1.74.2019

PDF HTML 46-51

Optoelectrónica y microelectrónica

Medición de desplazamientos nanométricos en polímeros piezoeléctricos usando método de descomposición en modos empíricos bivariados en patrones de speckle Pablo Etchepareborda, Francisco Veiras, Arturo Bianchetti, Alejandro Federico, Martin German Gonzalez DOI: https://doi.org/10.37537/rev.elektron.3.1.76.2019

PDF HTML 52-57