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  • Estudio y desarrollo de un sensor ultrasónico enfocado apto para tomografía optoacústica

    Roberto M. Insabella, Martín Germán González, Ligia Ciocci Brazzano, David Barbieri
    69-73
    2020-12-14
    DOI: https://doi.org/10.37537/rev.elektron.4.2.100.2020

  • Sistema de iluminación para obtención de imágenes optoacústicas basado en LEDs y EDU-CIAA

    Emiliano Gasparovic, Roberto Mariano Insabella, Martín Germán González
    64-68
    2020-12-14
    DOI: https://doi.org/10.37537/rev.elektron.4.2.107.2020

  • Método sencillo para determinar la resolución y sensibilidad de sistemas para tomografía optoacústica

    Martin German Gonzalez, Eduardo Omar Acosta, Guillermo Santiago
    63-66
    2018-12-03
    DOI: https://doi.org/10.37537/rev.elektron.2.2.47.2018

  • Red adversaria generativa aplicada a la eliminación de ruido y artefactos en sinogramas de tomografía optoacústica

    Delfina Montilla, Martín German González, Leonardo Rey Vega
    7-18
    2023-06-15
    DOI: https://doi.org/10.37537/rev.elektron.7.1.180.2023

  • Aprendizaje anticausal en problemas inversos y su aplicación a tomografía optoacústica

    Matías Vera, Martín Germán González, Leonardo Rey Vega
    76-83
    2025-12-15
    DOI: https://doi.org/10.37537/rev.elektron.9.2.222.2025

  • Estudio de redes generativas de confrontación para generación de datos sintéticos y su aplicación a tomografía optoacústica

    Alejandro Scopa Lopina, Martín Germán González, Matías Vera
    61-70
    2023-12-15
    DOI: https://doi.org/10.37537/rev.elektron.7.2.185.2023

  • Análisis y modelado de un sistema para tomografía optoacústica basado en interferometría óptica heterodina

    Roberto M. Insabella, Martín Germán González
    94-99
    2021-12-15
    DOI: https://doi.org/10.37537/rev.elektron.5.2.139.2021

  • Sensor Piezoeléctrico con Geometría Lineal para Tomografía Optoacústica: Implementación y Caracterización Eléctrica

    Betina Abadi, Ligia Ciocci Brazzano, Patricio Sorichetti, Martín Germán González
    53-57
    2017-11-16
    DOI: https://doi.org/10.37537/rev.elektron.1.2.29.2017
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