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Número Título
 
Vol 5, No 2 (2021) Modelización numérica de la pérdida de carga inducida por radiación en celdas CMOS de puerta flotante Resumen  PDF (English)  HTML (English)
Lucas Sambuco Salomone, Mariano Garcia-Inza, Sebastián Carbonetto, Adrián Faigón
 
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