Faigón, Adrián

• Vol 5, No 2 (2021) - Optoelectrónica y microelectrónica
  Modelización numérica de la pérdida de carga inducida por radiación en celdas CMOS de puerta flotante
  Resumen  PDF (English)  HTML (English)

Revista elektron,  ISSN-L 2525-0159
Facultad de Ingeniería. Universidad de Buenos Aires 
Paseo Colón 850, 3er piso
C1063ACV - Buenos Aires - Argentina
revista.elektron@fi.uba.ar
+54 (11) 528-50889