Detalles de autor/a

Bianchetti, Arturo, INTI-Latof, Argentina

  • Vol 3, No 1 (2019) - Optoelectrónica y microelectrónica
    Medición de desplazamientos nanométricos en polímeros piezoeléctricos usando método de descomposición en modos empíricos bivariados en patrones de speckle
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