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• Modelización numérica de la pérdida de carga inducida por radiación en celdas CMOS de puerta flotante

  Lucas Sambuco Salomone, Mariano Garcia-Inza, Sebastián Carbonetto, Adrián Faigón

  100-104

  2021-12-15

  DOI: https://doi.org/10.37537/rev.elektron.5.2.136.2021

• Procedimiento para el modelado de un convertidor boost para UPS mediante variables de estado

  Federico Gabriel D'Angiolo, Julio Guillermo Zola

  1-6

  2021-06-15

  DOI: https://doi.org/10.37537/rev.elektron.5.1.122.2021