Sambuco Salomone, L., Garcia-Inza, M., Carbonetto, S., & Faigón, A. (2021). Modelización numérica de la pérdida de carga inducida por radiación en celdas CMOS de puerta flotante. Revista Elektron, 5(2), 100-104. https://doi.org/10.37537/rev.elektron.5.2.136.2021