
Análisis de la atenuación de emisiones conducidas
en sistemas complejos
Julio Guillermo Zola
#1
, Pablo Marino Belcaguy
#2
, Federico Gabriel D´Angiolo
#3
#
Laboratorio de Circuitos Electrónicos, Dto. de Electrónica, Facultad de Ingeniería, Universidad de Buenos Aires
Paseo Colón 850 (1063), CABA, Argentina
1
jzola@fi.uba.ar
2
pablo.marino.belcaguy@gmail.com
3
federicogd2009@gmail.com
Abstract— The analysis and attenuation of electromagnetic
interference (EMI) in complex electronic systems is an
important issue to take into account in the design of these
systems, due to malfunctions that may be caused by such
interferences. In this paper the particular design of a filter to
reduce spurious currents or conducted emissions from
different DC to DC converters that are part of a complex
system, is described. This design includes a method to help to
reduce conducted emissions from these converters. While
design criteria are oriented to a particular system, this study
can be applied generically to any system where it is necessary
to evaluate EMI.
Resumen— El análisis y atenuación de la interferencia
electromagnética (EMI) en sistemas electrónicos complejos
resulta un aspecto de importancia a tener en cuenta en su
diseño, debido al mal funcionamiento que pueden provocar
estas interferencias en dichos sistemas. En el presente trabajo
se describe el diseño particular de un filtro para atenuar las
corrientes espurias o emisiones conducidas provenientes de
distintos conversores de continua a continua que forman parte
de un sistema complejo. Incluye este diseño un método para
ayudar a reducir las emisiones conducidas desde dichos
conversores. Si bien, los criterios de diseño usados están
orientados para la electrónica de un sistema particular, este
estudio puede aplicarse en forma genérica a cualquier sistema
donde sea necesario evaluar EMI.
I. INTRODUCCIÓN
En muchos sistemas donde existen dispositivos
semiconductores que conmutan, se producen corrientes
indeseadas las cuales se propagan por todo el sistema a
través del conexionado. Según la topología de dicho sistema,
se define la forma en la cual dichas corrientes terminan
contribuyendo, como por ejemplo el caso en que todos los
subsistemas se encuentren conectados a una línea principal
de alimentación o bus principal [1]. En el presente trabajo,
estas corrientes espurias se generan en convertidores o
conversores de continua a continua (DC-DC). Estas
corrientes espurias en los DC-DC, que ya han sido
modelizadas en trabajos anteriores [2], se propagan a través
del cableado de alimentación hacia distintos bloques
circuitales que componen un equipamiento complejo. El
efecto de estas corrientes o emisiones conducidas (CE)
puede traer como consecuencia la degradación del
funcionamiento de cada bloque, provocando así el deterioro
general del sistema. La inmunidad de cada bloque en
general se evalúa mediante ensayos de susceptibilidad
conducida (CS) o inmunidad conducida [3,4].
Por ejemplo, si algún bloque que se conecta a esta línea
de alimentación contiene circuitos digitales, estos podrían
producir errores en las codificaciones digitales, provocando
así su mal funcionamiento. Otro ejemplo se da en la emisión
y recepción de imágenes, es decir en un sistema que se
encuentra constantemente transmitiendo imágenes a través
de señales. Si dichas señales digitales son afectadas por las
CE, puede ocurrir que las imágenes recibidas sean confusas
o no tengan el suficiente detalle requerido.
Para poder evaluar la influencia de estas corrientes
espurias, se debe analizar la interferencia electromagnética
sobre el sistema (EMI), que es la emisión de energía
electromagnética que degrada o perjudica la calidad de una
señal [2,5,6]. Por otro lado, debe evaluarse asimismo la
compatibilidad electromagnética (EMC), es decir la
habilidad de un sistema de no causar EMI a otros equipos,
así como de ser insensible a las emisiones que puedan
causar otros sistemas [7]. Tanto las CE como la CS son
evaluadas mediante ensayos dedicados y existen normas
bien conocidas al respecto [8,9,10,17].
II. PROPAGACIÓN DE LAS EMISIONES CONDUCIDAS
Se puede decir que existe por un lado un equipo
“culpable” encargado de emitir las interferencias y por otro
un equipo receptor o “victima”, que recibe las interferencias,
tal como se muestra en el esquema de la Fig. 1 [11].
Fig. 1. Emisor y receptor de las interferencias.
En este caso se toma como equipo emisor a un DC-DC,
pero en general los circuitos electrónicos de potencia son los
equipos “culpables”, ya que para mejorar su rendimiento
trabajan en conmutación. Los dispositivos que producen
esta conmutación (diodos, transistores, etc.) conectan y
desconectan niveles elevados de corrientes y tensiones.
Estas conexiones y desconexiones producen señales
eléctricas no deseadas que afectan a otros equipos
electrónicos y que dan origen a las EMI.
En la Fig. 2 se muestran las variaciones temporales de
corrientes y tensiones que tienen mayor contribución a las
CE en un DC-DC básico de tipo flyback [12]. Al conmutar
el transistor, se producen corrientes que tienen un alto
contenido armónico. La corriente en el transformador
evoluciona linealmente con la tensión aplicada en sus
terminales, por lo tanto esta tensión también contribuirá al
espectro agregando componentes armónicas.
Revista elektron, Vol. 1, No. 1, pp. 48-52 (2017)
Recibido: 31/10/16; Aceptado: 10/07/17