Federico, Alejandro, INTI-Latof, Argentina
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Vol 3, No 1 (2019) - Optoelectrónica y microelectrónica
Medición de desplazamientos nanométricos en polímeros piezoeléctricos usando método de descomposición en modos empíricos bivariados en patrones de speckle
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Revista elektron, ISSN-L 2525-0159
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